џWPCL ћџ2BJ|xа HH ааЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHpи P Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаа АА X агга ХА6p&А6p&Х аб cмˆ4 PŽТ б вЦ‚HјР!Цв‡аЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHpи џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаааб cмˆ4 PŽТ бIMPORT R:\\ART\\WMF\\ITU.WMF \* mergeformatУ Уб cмˆ4 PŽТ б аЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHP И XА`ИhР!Р!џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаб cмˆ4 PŽТ бФ Ф б cмˆ4 PŽТ бINTERNATIONAL TELECOMMUNICATION UNIONб cмˆ4 PŽТ бУ У а јА ааЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџјP И XА`ИhР!Р!џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаˆа HH ааЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHpи P Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬа аЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHјpи (#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџ ЬаТа ТТ№ ТТ№јТб cмˆ4 PŽТ бCCITTб cмˆ4 PŽТ бСHШ CСƒб cмˆ4 PŽТ бK.28УУб cмˆ4 PŽТ бЦЦ аЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHјpи А"(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџ ЬаТа ТТ№ ТТ№јТ‚б cмˆ4 PŽТ бФ ФФФTHE INTERNATIONALЦЦ Та ТТ№ ТТ№јТTELEGRAPH AND TELEPHONEЦЦ Та ТТ№ ТТ№јТCONSULTATIVE COMMITTEEЦЦ Та ТТ№ ТТ№јТб cмˆ4 PŽТ бЦЦ аЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHpи А"(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬа аЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHјpи А"(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџ ЬаТа ТТ№ ТТ№јТб cмˆ4 PŽТ бУ УЦЦ Та ТТ№ ТТ№јТPROTECTION AGAINST INTERFERENCEЦЦ Та ТТ№ ТТ№јТб cмˆ4 PŽТ бЦЦ Та ТТ№ ТТ№јТЦЦ Та ТТ№ ТТ№јТCHARACTERISTICS OF SEMIЉCONDUCTORЦЦ Та ТТ№ ТТ№јТARRESTER ASSEMBLIES FOR THEЦЦ Та ТТ№ ТТ№јТPROTECTION OF TELECOMMUNICATIONSЦЦ Та ТТ№ ТТ№јТINSTALLATIONSЦЦ Та ТТ№ ТТ№јТЦЦ Та ТТ№ ТТ№јТб cмˆ4 PŽТ бЦЦ Та ТТ№ ТТ№јТЦЦ Та ТТ№ ТТ№јТЦЦ Та ТТ№ ТТ№јТб cмˆ4 PŽТ бRecommendation K.28б cмˆ4 PŽТ бЦЦ Та ТТ№ ТТ№јТЦЦ Та ТТ№ ТТ№јТб cмˆ4 PŽТ бФ ФЦЦ Та ТТ№ ТТ№јТб cмˆ4 PŽТ бвЦ‚HјР!Цв‡аЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHјpи џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаIMPORT R:\\ART\\WMF\\CCITTRUF.WMF \* mergeformatб cмˆ4 PŽТ бУ УЦЦТа ТТ№ ТТ№јТ аЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHјP И XА`ИhР!Р!џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаб cмˆ4 PŽТ бФ ФGeneva, 1991б cмˆ4 PŽТ бУ УЦЦ а јА ааЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџјP И XА`ИhР!Р!џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаˆФ Фа HH ааЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHpи А"(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬа‚ аЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHpи P Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаб cмˆ4 PŽТ б ‚С`(#5СPrinted in Switzerland аЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHјP Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаУ У Та ТС€ HССр8NСFOREWORDФ ФЦЦ а H№ аС СThe CCITT (the International Telegraph and Telephone Consultative Committee) is a permanent organ of the International Telecommunication Union (ITU). CCITT is responsible for studying technical, operating and tariff questions and issuing Recommendations on them with a view to standardizing telecommunications on a worldwide basis. а H ааЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHpи P Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаС СThe Plenary Assembly of CCITT which meets every four years, establishes the topics for study and approves Recommendations prepared by its Study Groups. The approval of Recommendations by the members of CCITT between Plenary Assemblies is covered by the procedure laid down in CCITT Resolution No. 2 (Melbourne, 1988). а H аС СRecommendation K.28 was prepared by Study Group V and was approved under the Resolution No. 2 procedure on the 18 of March 1991. ‚Ср PС___________________  аЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHјP Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаТа ТС€ HС‚Ср TСб cмˆ4 PŽТ бCCITT NOTEУ Уб cмˆ4 PŽТ бЦЦ б cмˆ4 PŽТ бФ ФС СIn this Recommendation, the expression Р"РAdministrationР"Р is used for conciseness to indicate both a telecommunication Administration and a recognized private operating agency. аЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHpи P Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬа ‚Ср UСРMР  ITU  1991 а H аAll rights reserved. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the ITU.‚У У PAGE BLANCHEб cмˆ4 PŽТ б ггеУI а Hx аУ Уб cмˆ4 PŽТ б styleref head_footRecommendation K.28Ф ФPAGE7 б cмˆ4 PŽТ бУ УУееŸ† а HH аб cмˆ4 PŽТ бPAGE6б cмˆ4 PŽТ бУ У styleref head_footRecommendation K.28 Ÿеа X Ш аб cмˆ4 PŽТ бRecommendation K.28 аЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџH јP Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаб cмˆ4 PŽТ бФ ФRecommendation K.28 аЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHpи P Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬа‚Ср =СУ Уб cмˆ4 PŽТ бCHARACTERISTICS OF SEMIЉCONDUCTOR ARRESTER ASSEMBLIES Ср <СFOR THE PROTECTION OF TELECOMMUNICATIONS INSTALLATIONS аЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHјP Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаб cмˆ4 PŽТ бТа ТForewordФ ФЦЦ а H ааЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHpи P Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаС СCareful survey of the electrical environment that telephone equipment must safely survive, has led to the conclusion that semiЉconductor devices that are robust enough to act as primary protectors are now possible. SemiЉconductor devices provide for tightly toleranced and stable overЉvoltage control, which does not change with age or activity within their design capability. Furthermore, they introduce negligible circuit noise on the circuits they are protecting. С СWidespread trials of these semiЉconductor overvoltage protectors for primary protection are taking place and this Recommendation provides а H аdetailed guidance on the particular qualities which should be sought when manufacturing or purchasing such devices. The trials and initial applications are ongoing and some details of the technology may change in the light of the results. Nevertheless, to bring the trials and initial applications to the notice of a wider audience and to acquaint potential users with both the advantages and disadvantages of these devices, CCITT considers the subject to be important and stable enough to publish a Recommendation on the new technology. аЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHјP Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬа‚У У0ТX ТIntroductionФ ФЦЦ а H ааЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHpи P Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаС СThe purpose of this Recommendation is to provide technical guidelines for purchasers and manufacturers of semiЉconductor arrester assemblies (SAA) to ensure their satisfactory operation in the applications for which they are intended. Figure IЉ1/K.28 shows examples of such arresters. а H аС СIt is intended to be used for the harmonization of specifications issued by manufacturers of semiЉconductor arrester assemblies (SAA) and network operators. а H аС СOnly minimum requirements are specified for essential characteristics. As some users may be exposed to different environments or have different operating conditions, service objectives or economic constraints, the requirements of this Recommendation may be modified or further requirements added to suit local conditions. It is for Administrations to classify the environment for a particular device, taking into account business policy, and economic and technical considerations. а H аС СThe requirements detailed for arresters in this Recommendation may entail statistical analysis of samples. Standard statistical analysis techniques can be applied and therefore no description of this analysis approach is given. аЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHјP Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬа‚У У1ТX ТScopeФ ФЦЦ а H ааЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHpи P Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаС СThis Recommendation applies to semiЉconductor arrester assemblies to be used for primary protection against voltage surges due to lightning or а H аpower disturbances on telecommunications circuits, in accordance with Recommendation K.11. It deals with semiЉconductor arrester assemblies of the type that limit voltages from line to earth to a few volts when conducting sufficient current to switch the device. С СIt does not deal with: а H№ аТа ТРIРТ№ Тmountings for SAAs and their effect on arrester characteristics;ЦЦ а H аТа ТРIРТ№ ТsemiЉconductor arresters which are connected in series with voltageЉdependent resistors to limit followЉon currents in electrical power systems;ЦЦ Та ТРIРТ№ Тmechanical dimensions;ЦЦ Та ТРIРТ№ Тquality assurance requirements;ЦЦ Та ТРIРТ№ Тunits containing heatЉcoils.ЦЦ а HH ааЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHјP Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬа‚У У2ТX ТDefinitionsФ ФЦЦ аЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHpи P Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаС СThese are given in Annex A. аЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHјP Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬа‚У У3ТX ТEnvironmental requirementsФ ФЦЦ а H ааЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHpи P Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаС СThe semiЉconductor arrester assemblies should operate satisfactorily in, and be capable of storage in, temperature and humidity ranges selected for the intended application. The selected temperature range should be between the extreme values of РIР40 РРC and +65 РРC. The selected humidity range should be between the extreme values of 0 and 95% RH. аЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHјP Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬа‚У У4ТX ТElectrical requirementsФ ФЦЦ 4.1Тh  ТУУMaximum voltage limitingФФЦЦ а H ааЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHpи P Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаС СWhen tested according to РSР 5.1, the SAA voltage limiting should not be outside the limits given in Table 1/K.28. ‚Ср KСб cмˆ4 PŽТ бinclude 28Љt01ЉeTABLE 1/K.28 Ср IСУ УVoltage limiting РIР maximum limitsФ Ф б cмˆ4 PŽТ баЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџH јP Ј XА(џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаб cмˆ4 PŽТ бMaximum voltage limiting at stated rate of rise а HH аб cмˆ4 PŽТ ба HH аб cмˆ4 PŽТ бвЦƒHpшˆˆ(Цв‡аЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHpи џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаСрИ (Сб cмˆ4 PŽТ б(100 V/s to 100 kV/s) СрИ .С100 V/ms СрИ /С1 kV/ms а ˆH ааЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџpи ˆџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаб cмˆ4 PŽТ бˆа ˆH аб cмˆ4 PŽТ бвЦƒHpшˆˆ(Цв‡СрXHСб cмˆ4 PŽТ б400 V СрXHС400 V СрXHС400 V а ˆH аб cмˆ4 PŽТ бˆа P   ааЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџpи P Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаадаб cмˆ4 PŽТ бУУNoteФФ РIР The maximum voltage limiting may be set by either equipment protection requirements (e.g. Recommendation K.21 or Recommendation K.20), or by technology capability. Valeurs shown are typical. а HH ааЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџH јP Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаааб cмˆ4 PŽТ б ‚б cмˆ4 PŽТ баЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHјP Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаб cмˆ4 PŽТ б Та Т4.2СP СУУMinimum voltage limitingФФЦЦ а H ааЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHpи P Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаС СThe current in an SAA when tested according to РSР 5.2 should not exceed the values given in Table 2/K.28 for the voltage limits shown. ‚Ср KСб cмˆ4 PŽТ бinclude 28Љt02ЉeTABLE 2/K.28 Ср FСУ УMinimum voltage limiting РIР requirementsФ Ф б cмˆ4 PŽТ бвЦƒHши xhЦв‡аЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHpи џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаСр KСб cмˆ4 PŽТ бRamp maximum peak voltage (V) Ср QСRб cмˆ4 PŽТ бУУ1ФФб cмˆ4 PŽТ б nominal value Ср WС(kW) Ср KСMaximum measured current (mA) а hh ааЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџpи hџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаб cмˆ4 PŽТ бˆа hh аб cмˆ4 PŽТ бвЦƒHши xhЦв‡Ср#8QСб cмˆ4 PŽТ б265 Ср#8QС1,0 Ср#8QС20 а hh аб cмˆ4 PŽТ бˆа `  ааЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџp` и P Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаадаб cмˆ4 PŽТ бУУNoteФФ РIР The minimum voltage limit is set by the summation of the peak ringing, battery, and 50/60 Hz longЉterm induction voltages. The current is set by ensuring nonЉoperation of a ringЉtrip mechanism or by not unduly loading the ringer. Values shown are typical, and it should be noted that this Recommendation may be modified to suit local conditions. а HH ааЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџH јP Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаааб cмˆ4 PŽТ б ‚б cмˆ4 PŽТ б аЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHјP Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаб cмˆ4 PŽТ б4.3Тh  ТУУInsulation resistanceФФЦЦ а H ааЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHpи P Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬа4.3.1С СThis test measures the effect of two parameters simultaneously, semiЉconductor junction leakage and insulation resistance. 4.3.2С СWhen tested according to РSР 5.3, the values of combined leakage and insulation resistance should not be outside the values given in Table 3/K.28. ‚Ср KСб cмˆ4 PŽТ бinclude 28Љt03ЉeTABLE 3/K.28 Ср KСУ УMinimum isulation resistanceФ Ф б cмˆ4 PŽТ бвЦ‚H0 Ј аЦв‡аЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHpи P 0 џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаСр RСб cмˆ4 PŽТ бDC text voltage Ср XС(V) Ср TСMinimum Rб cмˆ4 PŽТ бУУ1ФФ Ср XСб cмˆ4 PŽТ б(W) а Ј   ааЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџpи P 0 Ј џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаб cмˆ4 PŽТ бˆа Ј   аб cмˆ4 PŽТ бвЦ‚H0 Ј аЦв‡Ср@Сб cмˆ4 PŽТ б050 Ср@С10б cмˆ4 PŽТ бУУ8ФФб cмˆ4 PŽТ б а Ј   аб cмˆ4 PŽТ бˆа Ј   аб cмˆ4 PŽТ бвЦ‚H0 Ј аЦв‡Ср@Сб cмˆ4 PŽТ б100 Ср=С150 РР 10УУб cмˆ4 PŽТ б6б cмˆ4 PŽТ бФФ а Ј   аб cмˆ4 PŽТ бˆа Ј   аб cмˆ4 PŽТ бвЦ‚H0 Ј аЦв‡Ср@Сб cмˆ4 PŽТ б200 Ср=С165 РР 10УУб cмˆ4 PŽТ б3б cмˆ4 PŽТ бФФ а Ј   аб cмˆ4 PŽТ бˆа И ш ааЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџpи P И Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаадаУУб cмˆ4 PŽТ бNote 1ФФ РIР Voltages of both polarities should be applied. а И  аУУNote 2ФФ РIР Limit the source current to 10 mA maximum at 200 V.d.c., and proportionally at other test voltages. УУNote 3ФФ РIР The 200 V limit takes into account voltage levels that may be impressed on to some lines for specific operational purposes. а HH ааЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџH јP Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаааб cмˆ4 PŽТ б ‚б cмˆ4 PŽТ баЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHјP Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаб cмˆ4 PŽТ б Та Т4.4СP СУУCapacitanceФФЦЦ а H ааЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHpи P Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаС СThe capacitance between each pair of electrodes (excluding protector assembly capacitance) should not exceed 200 picofarads (pF) when tested according to РSР 5.4 at a frequency of 1 MHz. аЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHјP Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬа4.5Тh  ТУУImpulse resetФФЦЦ а H ааЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHpи P Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаС СThe SAA should revert to its high impedance state in less than 30 ms when tested to РSР 5.5 using appropriate rows(s) from Table 4/K.28 of this Recommendation for the parameters that apply to Figure 1/K.28. Select the appropriate row depending on the expected SAA application. ‚Ср KСб cмˆ4 PŽТ бinclude 28Љt04ЉeTABLE 4/K.28 Ср IСУ УImpulse reset circuit parametersФ Ф Ср PС(see Figure 1/K.28)б cмˆ4 PŽТ бУ УФ Ф вЦ„Hи Ш ˜ ˆXЦв‡аЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHpи џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаСр XСб cмˆ4 PŽТ бPSУУб cмˆ4 PŽТ б1б cмˆ4 PŽТ бФФ Ср XС(V) Ср XСRУУб cмˆ4 PŽТ б3ФФб cмˆ4 PŽТ б Ср XС(W) Ср XСRб cмˆ4 PŽТ бУУ2б cмˆ4 PŽТ бФФ Ср XС(W) Ср XСCУУб cмˆ4 PŽТ б1ФФб cмˆ4 PŽТ б Ср WС(mF) а ˆ ааЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџpи ˆџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаб cмˆ4 PŽТ бˆа ˆ аб cмˆ4 PŽТ бвЦ„Hи Ш ˜ ˆXЦв‡Ср№CСб cмˆ4 PŽТ б152 Ср№CС200 Ср№AСNote 5 Ср№AСNote 5 а ˆ аб cмˆ4 PŽТ бˆа ˆ аб cмˆ4 PŽТ бвЦ„Hи Ш ˜ ˆXЦв‡Ср№CСб cмˆ4 PŽТ б135 Ср№CС690 Ср№CС150 Ср№CС0.1 а ˆ аб cмˆ4 PŽТ бˆа ˆ аб cмˆ4 PŽТ бвЦ„Hи Ш ˜ ˆXЦв‡Ср№CСб cмˆ4 PŽТ б180 Ср№CС330 Ср№CС150 Ср№CС0.1 а ˆ аб cмˆ4 PŽТ бˆа И ј ааЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџpи P И Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаадаб cмˆ4 PŽТ бУУNote 1ФФ РIР Test using a large generator having an open circuit peak voltage of 1 kV minimum, and capable of delivering a short circuit current surge of 25 A (see РSР 5.5) with a 10/1000 ms waveform or a 10/700 ms waveform. УУNote 2ФФ РIР Perform all required tests with both polarities, line to earth. УУNote 3ФФ РIР When an SAA is intended for use on both tip and ring, the surge described in Note 1 may be applied to both tip and ring simultaneously. Appropriate impulse reset circuit parameters should be used. УУNote 4ФФ РIР In no case should УУdi/dtФФ exceed 30 A/ms. а И  аУУNote 5ФФ РIР Components omitted in this test. а HH ааЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџH јP Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬааа‚аЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHpи P Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬа Ср8GСFigure 1/K.28 = 11 cm б cмˆ4 PŽТ б аЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHјP Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬа4.6Тh  ТУУRate of change of currentФФЦЦ а H ааЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHpи P Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаС СThe SAA, when tested to РSР 5.6, should not fail short circuit and should meet the maximum voltage limiting requirement of РSР 4.1 following application of the surge. аЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHјP Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬа4.7Тh  ТУУSurge life testsФФЦЦ а H ааЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHpи P Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬа4.7.1С СSAAs should be measured for their performance in the categories of impulse life and 50/60 Hz current carrying capacity, according to РSР 5.7. The types of protectors in which the SAAs are mounted for testing should be identified and the life tests should apply only when the SAAs are used in those, or similar, protectors. Table 5/K.28 of this Recommendation indicates the requirements. The 10 A impulse tests may be curtailed or waived if it can be demonstrated satisfactorily that no wearЉout mechanisms are present in the design. а H а4.7.2С СThe surge life requirements of Table 5/K.28 may not be sufficient for protectors intended for applications where they are directly connected to open wire lines, or in other highЉexposure areas. ‚Ср KСб cмˆ4 PŽТ бinclude 28Љt05ЉeTABLE 5/K.28 Ср KСУ УSurge life criteria for SAAsФ Ф б cмˆ4 PŽТ бвЦƒHјшˆxшЦв‡аЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHpи џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаСр WСб cмˆ4 PŽТ бTest Ср VСCurrent Ср UС(Note 1) Ср AСTotal number of applications at specified current а xˆ ааЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџpи xџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаб cмˆ4 PŽТ бˆа xˆ аб cмˆ4 PŽТ бвЦƒHјшˆxшЦв‡Ср!АMСб cмˆ4 PŽТ бImpulse current Ср!АPС(Note 2) Ср!АPС10 A peak Ср!АLС1500(10/1000) or Ср!АNС2500(10/700) а xˆ аб cмˆ4 PŽТ бˆа xˆ аб cмˆ4 PŽТ бвЦƒHјшˆxшЦв‡б cмˆ4 PŽТ б Ср!АPС10 A peak Ср!АMС100(10/1000) or Ср!АNС160(10/700) а xˆ аб cмˆ4 PŽТ бˆа xˆ аб cмˆ4 PŽТ бвЦƒHјшˆxшЦв‡Ср!АNСб cмˆ4 PŽТ бa.c. 48Љ62 Hz Ср!АQСfor 1 s Ср!АQС1 A rms Ср!АPС10 A rms Ср!АSС60 Ср!АSС65 а xˆ аб cмˆ4 PŽТ бˆа xˆ аб cмˆ4 PŽТ бвЦƒHјшˆxшЦв‡Ср!АNСб cмˆ4 PŽТ бa.c. 48Љ62 Hz Ср!АPСfor 30 s Ср!АPС0,5 A rms Ср!АSС61 а xˆ аб cмˆ4 PŽТ бˆа p№ ааЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџpи P Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаадаб cмˆ4 PŽТ бУУNote 1ФФ РIР Currents are given for one paair of terminals (e.g. tip to ground or ring to ground). УУNote 2ФФ РIР УУdi/dtФФ must not exceed 30 A/ms. а HH ааЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџH јP Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаааб cмˆ4 PŽТ б ‚б cмˆ4 PŽТ б а H ааЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHpи P Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаб cмˆ4 PŽТ б4.7.3С СDevices that can be shown to have a surge life that is temperature sensitive should be tested to РSР 5.7 at the maximum and minimum operating temperatures for the intended application. аЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHјP Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬа‚У У5ТX ТTest methodsФ ФЦЦ 5.1Тh  ТУУMaximum voltage limiting ФФ(see РSР 4.1)ЦЦ аЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHpи P Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬа5.1.1С СThe test current should be chosen from the range 10 A to 100 A. The maximum rate of change of current applied to the SAA throughout the test shall not exceed 30 A/ms. The device shall be tested with both positive and negative waveforms. а H а5.1.2С СWith rate of rise as specified in Table 1/K.28, apply sufficient impulse voltage to cause breakdown. Repeat the test with opposite polarity and using the same device. Allow a one or two second waiting time between applications. а H а5.1.3С СFor impulse testing, the voltage generator used for this test must be capable of maintaining the open circuit voltage rate of rise of Table 1/K.28 (rate of rise defined in IEC 60).аЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHјP Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬа а HX аТа Т5.2СP СУУMinimum voltage limiting ФФ(see РSР 4.2 and Figure 2/K.28)ЦЦ а H ааЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHpи P Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаС СThe generator shown in Figure 2/K.28 should provide a ramp of 100 V/s to 100 V/ms to the terminals under test. The circuit current can be determined by monitoring the voltage drop across a 1 kW resistor. The generator voltage should be no more than the value shown in Table 2/K.28. ‚Ср MСб cмˆ4 PŽТ бFigure 2/K.28 = 7,5 cm б cмˆ4 PŽТ б аЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHјP Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬа5.3Тh  ТУУInsulation resistanceФФ (see РSР 4.3)ЦЦ а H ааЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHpи P Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаС СCombined insulation resistance and leakage (known jointly as Rб cмˆ4 PŽТ бУУIФФб cмˆ4 PŽТ б) should be measured between each terminal and every other terminal of the SAA by applying a specified direct current voltage source of both polarities with values as shown in Table 3/K.28 of this Recommendation. Insulation resistance readings should be taken after insulation stabilization or after one minute of applied voltage, whichever occurs first. Terminals not involved in the measurement should be left floating. аЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHјP Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬа5.4Тh  ТУУCapacitance ФФ(see РSР 4.4)ЦЦ а H ааЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHpи P Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаС СThe capacitance of the SAA shall be measured between each terminal and every other terminal. All terminals not involved in the test shall be connected to an earth plane in the measuring instrument. The measurement voltage should be small enough to not interfere with the measurement and should in any case not exceed 1 V rms. аЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHјP Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬа5.5Тh  ТУУImpulse reset ФФ(see РSР 4.5)ЦЦ аЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHpи P Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаС СThe maximum impulse current should be 25 A, with a 10/1000 or 10/700 waveform measured through a short circuit. The maximum rate of change of current applied to the SAA throughout the test should not exceed 30 A/ms. The impulse current should be applied to the SAA in the same polarity as the d.c. source. Three impulses should be applied at not greater than one minute intervals. The tests should be repeated with the specimen connections reversed. The 30 ms requirement applies to the time between application of the impulse and device reset. If required, the impulse generator may be disconnected from the SAA 10 ms after the application of the surge.аЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHјP Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬа а Hр аТа Т5.6СP СУУRate of change of current ФФ(see РSР 4.6 and Figure 3/K.28)ЦЦ а H ааЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHpи P Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаС СA surge with a rate of change of current of 25 A/ms to 30 A/ms and having a maximum current of 100 A and open circuit voltage of 1 kV, should be applied to the SAA (see Figure 3/K.28). This should be repeated with surges of the opposite polarity. ‚Ср MСб cмˆ4 PŽТ бFigure 3/K.28 = 11,5 cm б cмˆ4 PŽТ б аЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHјP Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬа5.7Тh  ТУУSurge life tests ФФ(see РSР 4.7 and Figure 4/K.28)ЦЦ а H ааЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHpи P Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬа5.7.1С СSAAs should be tested for impulse and 50/60 Hz life. When subjected to the various impulse and 50/60 Hz test currents shown in Table 5/K.28, at 20 РРC ггУУ+ФФ 2 РРC, a sample should have a surge life in accordance with the number of operations specified in that table. Half the specified number of tests should be carried out with one polarity followed by half with the other polarity. Alternatively, half the number in a sample quantity may be tested with one polarity and the other half with the opposite polarity. Tests for failure by insulation resistance, maximum and minimum voltage limiting should be conducted after each application of the test currents. Impulse reset should be measured after the number of operations specified as surge life criteria in Table 5/K.28 of this Recommendation for those SAAs surviving to that point. а H а5.7.2С СThe open circuit voltage for the impulse life tests should measure at least 1000 V peak. The current amplitudes should be measured with the SAA replaced by a short circuit having minimum inductance. а H а5.7.3С СThe test circuit for the 10 A rms alternating current test should consist of a 50/60 Hz supply feeding a parallel pair of nonЉinductive series limiting resistors, one for each line terminal. The supplyЉresistor combination should deliver 1000 V rms under open circuit conditions and 10 A rms to each line terminal under short circuit conditions. а H а5.7.4С СThe 1 A alternating current tests should be conducted using the circuits shown in Figures 4a)/K.28 and 4b)/K.28. ‚Ср MСб cмˆ4 PŽТ бFigure 4/K.28 = 15,5 cm б cмˆ4 PŽТ б а H а5.7.5С СA device should be considered to have reached endЉofЉsurge life if any of the following conditions apply: а H аТа ТТ№ ТС€ С1)СpСthe minimum voltage limit test results fall outside the limits in Table 2/K.28;ЦЦ а H аТа ТТ№ ТС€ С2)СpСthe maximum voltage limit test results fall outside the limits in Table 1/K.28;ЦЦ а H аТа ТТ№ ТС€ С3)СpСthe SAA fails to extinguish in less than 30 ms at the component combinations listed for SAAs in Table 4/K.28;ЦЦ а H аТа ТТ№ ТС€ С4)СpСthe life test insulation resistance (Rб cмˆ4 PŽТ бУУIФФб cмˆ4 PŽТ б) is less than or equal to 50 MW at 100 V d.c.ЦЦ а HH ааЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHјP Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬа‚У У6ТX ТMechanical requirementsФ ФЦЦ 6.1Тh  ТУУMechanical durabilityФФЦЦ а H ааЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHpи P Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаС СThe SAA should be sufficiently mechanically durable to withstand normal installation and maintenance procedures, as well as shipping, storage, and environmental stress. аЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHјP Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬа‚У У7ТX ТHigh temperature conditioningФ ФЦЦ а H ааЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHpи P Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаС СSamples should be subjected to the high temperature test specified here, and should display no warping, fading, or degradation of any material а H аwithin 12 hours of return to ambient temperature. They should be conditioned for seven days in a circulating air oven, maintained at the maximum temperature of intended application with no humidity control. After the seventh day, the samples should be removed from the oven and allowed to return to ambient temperature. аЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHјP Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬа‚У У8ТX ТGeneral test requirementsФ ФЦЦ а H ааЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHpи P Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаС СThis section describes the performance criteria against which an SAA is analysed. а H аТа ТТ№ ТС€ С1)СpСCertain tests require previous testing of samples for stress and environment. Also, subsequent tests may be necessary to determine whether the samples are still operational. If possible, the former tests should be completed, and these samples should proceed to the test programme with the untested samples.ЦЦ а H аТа ТТ№ ТС€ С2)СpСSurge testing can cause semiЉconductor devices to heat. Accordingly, allow sufficient cooling time between surges, as recommended by the manufacturer.ЦЦ а H аТа ТТ№ ТС€ С3)СpСIn all testing, the rate of change of discharge current must not exceed 30 A/ms at any time nor must the specified peak current be exceeded. Monitoring equipment to record these parameters is recommended.ЦЦ а HH ааЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHјP Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬа‚У У9ТX ТProduct identificationФ ФЦЦ 9.1Тh  ТУУOperating voltage identificationФФЦЦ а H ааЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHpи P Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаС СEach SAA should be marked in a clear, permanent, and distinctive manner to indicate the nominal operating voltage. аЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHјP Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬа9.2Тh  ТУУManufacturer's identificationФФЦЦ а H ааЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHpи P Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаС СOn each SAA, the manufacturer's name, part number, and date code should be indelibly marked. аЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHјP Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬа9.3Тh  ТУУCustomer's identificationФФЦЦ а H ааЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHpи P Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаС СIf requested and agreed, the customer's identification should be indelibly marked, on each SAA. аЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHјP Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬа‚У У10Тр  ТDocumentationФ ФЦЦ а H ааЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHpи P Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬа10.1С  СComplete instructions on installation and use should be included within every package of SAAs (or should be available on request). 10.2С  СInstructions and documentation should indicate whether the enclosed devices should be installed only in subscriber premises, or switching centres, or both. а H а10.3С  СDocumentation should be provided so that the purchaser can determine the full characteristics as set out in this Recommendation.аЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHјP Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬа‚У У Та Т11СјСOrdering informationФ ФЦЦ а HH ааЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHpи P Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаС СThe following information should be provided by the purchaser: а H аТа ТТ№ ТС€ Сa)СpСa drawing giving all dimensions, finishes and termination details of protector package into which the SAA will be fitted;ЦЦ Та ТТ№ ТС€ Сb)СpСnominal limiting voltage;ЦЦ Та ТТ№ ТС€ Сc)СpСthe required markings;ЦЦ Та ТТ№ ТС€ Сd)СpСquality assurance requirements.ЦЦ а HH а‚Ср8NСб cмˆ4 PŽТ бANNEX A Ср8FСб cмˆ4 PŽТ б(to Recommendation K.28) Ср89СУ УDefinitions of terms special to this RecommendationФ Ф аЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHјP Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаA.1Тh  ТУ УsemiЉconductor arrester (SA)Ф ФЦЦ а H ааЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHpи P Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаС СA semiЉconductor device that is intended to go low impedance when the voltage across two terminals exceeds a defined value, and go high impedance when that voltage is removed. аЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHјP Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаA.2Тh  ТУ УSA assembly (SAA)Ф ФЦЦ аЬџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџHpи P Ј XА`ИhР!(#џџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџџЬаС СOne or more SAs assembled into a housing in such a way as to form a readily identifiable, purchasable and testable unit. The function of an SAA is to divert overvoltages to earth, when installed in a protector. Examples of SAA are shown in Figure IЉ1/K.28. ‚б cмˆ4 PŽТ б Ср TСAPPENDIX I Ср MСб cмˆ4 PŽТ б(to Recommendation K.28) Ср MСб cмˆ4 PŽТ бFigure IЉ1/K.28 = 16 cm б cмˆ4 PŽТ б